由于X射线荧光光谱法可以非破坏性分析固体、粉末、液体样品，也可以快速、非破坏性的测试印刷电路板和其他电子设备中有害元素，因此被广泛用于应用于各个领域的材料中元素成分的分析。岛津EDX系列最大元素分析范围C-U，适用于多种尺寸多种状态的样品，无需样品前处理，操作简单，测量快速。内置多种计算方法，可进行定性/定量分析，可测试镀膜厚度，可与红外方法联用。

● 高分辨率SDD检测器，测量迅速。

● 多种滤光片，应对多元素高灵敏度分析。

● 专利背景FP法，可提升少量有机物样品的准确度